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内容提要
前言
第1章 数字集成电路设计概述
1.1 数字集成电路的发展历史与现状
1.2 现代数字IC设计方法的发展
1.3 数字IC前端设计语言及后端设计软件
1.4 数字IC的设计模式
1.5 数字IC设计面临的挑战
1.6 集成电路的分类
1.7 集成电路设计与制造相关的常用术语和基本概念
1.8 集成电路设计质量评价
第2章 VLSI设计方法学
2.1 VLSI设计流程简介
2.2 系统体系结构设计
2.3 RTL代码编写
2.4 RTL代码功能仿真
2.5 综合优化
2.6 可测性设计
2.7 后端布局布线
2.8 时序仿真
2.9 静态时序分析与时序收敛
2.10 CMOS工艺选择
2.11 IC产业的变革及对设计方法的影响
第3章 Verilog硬件描述语言
3.1 引言
3.2 Verilog HDL基本结构
3.3 数据类型及常量、变量
3.4 运算符及表达式
3.5 语句
3.6 赋值语句和块语句
3.7 条件语句
3.8 循环语句
3.9 结构说明语句
3.10 编译预处理语句
3.11 语句的顺序执行与并行执行
3.12 不同抽象级别的Verilog HDL模型
3.13 设计技巧
第4章 Verilog HDL逻辑设计方法
4.1 基本组合电路的设计方法
4.2 基本时序电路设计
4.3 同步状态机的设计方法
4.4 存储模块设计
4.5 复杂数字系统的逻辑设计
4.6 复杂数字系统设计举例：多周期处理机设计
4.7 可综合的Verilog RTL设计
4.8 代码书写风格
第5章 VLSI设计的验证方法
5.1 VLSI设计验证的原理与方法
5.2 软件仿真举例1：RSA加密处理器仿真
5.3 软件仿真举例2 ：基于USB的RSA加密处理器的功能仿真
5.4 软件仿真举例3：AES加密处理器的时序仿真
5.5 硬件仿真举例：基于USB的AES/RSA加密处理器的硬件仿真
5.6 验证平台编码风格
5.7 验证平台模块设计
5.8 验证平台结构设计
5.9 断言
5.10 验证质量评估
第6章 EDA工具的使用方法
6.1 ModelSim的使用方法
6.2 Quartus II的使用方法
第7章 低功耗设计技术
7.1 低功耗设计的背景和意义
7.2 低功耗设计技术的发展趋势
7.3 常用的低功耗设计技术介绍
第8章 可测性设计方法
8.1 可测性设计的背景及意义
8.2 可测性设计的基本概念与方法
8.3 基于ATPG的扫描测试
8.4 边界扫描电路设计
第9章 VLSI设计实例1：AES密码处理器设计
9.1 AES算法描述
9.2 AES密码处理器的体系结构设计
9.3 AES密码处理器的Verilog模型设计
9.4 AES密码处理器的功能仿真
9.5 基于FPGA的AES密码处理器的实现与测试
第10章 VLSI设计实例2：SMS4密码处理器设计
10.1 SMS4密码算法简介
10.2 体系结构设计
10.3 RTL级模型建立与功能仿真
10.4 FPGA实现与测试
第11章 VLSI设计实例3——RSA密码处理器设计
11.1 RSA算法描述
11.2 RSA算法硬件实现原理
11.3 RSA密码处理器体系结构设计
11.4 RSA密码处理器RTL级设计及仿真
11.5 RSA密码处理器的综合
11.6 RSA密码处理器的FPGA实现与测试
参考文献
更新时间：2020-08-28 14:42:04
完结共90章
倒序