神经影像学的最新发展，尤其是高分辨率MRI的出现，为显示详细的脑解剖结构提供了必要的工具，进一步加深了我们对脑的形态学、功能学以及二者之间关系的理解。以往将病变笼统地定位于额、顶、颞、枕等脑叶的方法已不能满足神经学科的需要，为临床医师提供更为详尽的影像解剖学信息非常必要。本书在探讨上述问题的基础上，将神经系统的结构特点与功能意义相结合，将影像学基础知识与临床应用相结合，力求使脑影像局部解剖与功能的研究更切合实际，从而提高这方面的研究水平。

以薄层磁共振断面图像为基础，通过与实体解剖图相对照，可以加深对解剖结构的理解:例如根据MRI上所见脑沟的形态、部位及其邻近脑沟、脑回之间的关系，往往能够正确识别大多数，甚至全部重要的脑沟，继而可识别与之相关的脑回、脑沟，并明确其相互关系，得到对该层面沟回及其毗邻结构的全面认识;脑髓质与脑皮质相比，含水量少而含脂量多，且氢质子的数目比皮质少10%左右，故其T ₁值和T ₂值均短于皮质，在T ₁WI上其信号强度高于脑皮质，在T ₂WI上则低于脑皮质(图a～d)，在质子密度加权像上稍低于脑皮质;苍白球、红核、黑质和齿状核等铁质沉积较多的核团，在高场T ₂WI上呈低信号，而在低场的质子密度加权像和T ₂WI上，除红核外，上述其他核团的信号强度常与脑皮质一致;基底核区内靠脑室，外邻外囊，是大脑半球中非常重要的部位，内囊走行于豆状核、尾状核与丘脑之间，上述结构在MRI中均能清晰显示。

为准确定位同一解剖结构在薄层矢状位、冠状位和横轴位上的确切位置，我们将同一病例不同断面的二维解剖图像以DICOM3格式输入三维成像系统。在某一断面图像(如矢状位)上定位一个示踪点，利用上述软件的3D curser功能，在同一病例的另几个断面图像(如冠状位、横轴位)上同步显示该示踪点的各个对应点，确保示踪点与另外几个断面图像上的对应点在解剖位置上一一对应。因为我们采用的二维断面图均为1～2mm的薄层解剖图像，故能将示踪点与对应点之间的误差降低至最低程度。

我们应用德国SIEMENS公司AVANTO 1.5T磁共振成像系统。扫描序列如下:

应用快速梯度回波(SPGR)序列，共计176层。TR/TE 11ms/4.94ms，翻转角15°。矩阵256×256，FOV 230mm，层厚1mm，无间隔，average 1。扫描范围从左到右包括全脑。

由三维矢状位薄层T ₁WI图重建所致。参数如下:视野230mm，层厚1mm，无间隔。矩阵256×256，共计160层。重建范围包括全脑。

由三维矢状位薄层T ₁WI图重建所致。参数如下:视野230mm，层厚1mm，无间隔。矩阵256×256，共计200层。重建范围包括全脑。

应用快速自旋回波(FSE)序列，共计88层。TR/TE 4450ms/110ms。矩阵256×256，FOV 230mm，层厚2mm，无间隔，average 4。扫描范围从左到右包括全脑。

应用快速自旋回波(FSE)序列，共计80层。TR/TE 3870ms/99ms。矩阵256×256，FOV 230mm，层厚2mm，无间隔，average 4。扫描范围从上到下包括全脑。

应用快速自旋回波(FSE)序列，共计100层。TR/TE 4840ms/99ms。矩阵256×256，FOV 230mm，层厚2mm，无间隔，average 4。扫描范围从后到前包括全脑。